• Libros
  • Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si?N? Interfaces
Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si?N? Interfaces
WALKOSZ, WERONIKA
Anglès
EAN
9781461428572
Editorial
SPRINGER
Any d'edició
2013
Idioma
Anglès
Col·lecció
Springer Theses
Alt
235
Ample
155
Sin Stock
Envío gratis
Entrega: a partir de 10 días laborales
103,99 €
-5%
98,79 €
Otros lectores lo han calificado con
Deixa’ns la teva opinió
0 opinions
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres