• Libros
  • Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Bhattacharya, Debashis
English
EAN
9781461288190
Editorial
Year of edition
2011
Idiom
English
nº colección
89
Collection
The Springer International Series in Engineering and Computer Science
High
235
Width
155
Otros lectores lo han calificado con
Share your feedback
0 opiniones
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres