• Libros
  • Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si?N? Interfaces
Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si?N? Interfaces
WALKOSZ, WERONIKA
Anglais
EAN
9781461428572
Éditorial
Année d'édition
2013
langage
Anglais
Collection
Springer Theses
Haute
235
Largeur
155
Otros lectores lo han calificado con
Laisse-nous ton avis
0 opiniones
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres