• Libros
  • Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy
Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy
Cherns, David
Inglés
EAN
9781461278504
Editorial
Año de edición
2011
Idioma
Inglés
nº colección
203
Colección
NATO Science Series B:
Alto
244
Ancho
170
Otros lectores lo han calificado con
Déjanos tu opinión
0 opiniones
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres