Multi-Chip Module Test Strategies
Zorian, Yervant
Inglés
EAN
9781461377986
Editorial
SPRINGER
Año de edición
2012
Idioma
Inglés
nº colección
7
Colección
Frontiers in Electronic Testing
Alto
260
Ancho
195
Sin Stock
Envío gratis
Entrega: a partir de 10 días laborales
103,99 €
-5%
98,79 €
Otros lectores lo han calificado con
Déjanos tu opinión
0 opiniones
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres