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Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance
VAN SCHOOTEN, KIPP
Inglés
EAN
9783319033280
Editorial
SPRINGER
Año de edición
2015
Idioma
Inglés
Colección
Springer Theses
Alto
235
Ancho
155
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