• Libros
  • Yield Simulation for Integrated Circuits
Yield Simulation for Integrated Circuits
WALKER, D.M.
Inglés
EAN
9780898382440
Editorial
Año de edición
1987
Idioma
Inglés
Colección
The Springer International Series in Engineering and Computer Science
Alto
234
Ancho
156
Otros lectores lo han calificado con
Déjanos tu opinión
0 opiniones
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres