• Libros
  • Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
VV.AA.
Anglès
EAN
9781441932990
Editorial
Any d'edició
2010
Idioma
Anglès
Col·lecció
Methods of Surface Characterization
Alt
229
Ample
152
Otros lectores lo han calificado con
Deixa’ns la teva opinió
0 opinions
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres