• Libros
  • Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
VV.AA.
Anglès
EAN
9780306458965
Editorial
Any d'edició
1998
Idioma
Anglès
Col·lecció
Methods of Surface Characterization
Alt
234
Ample
156
Otros lectores lo han calificado con
Deixa’ns la teva opinió
0 opinions
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres