• Libros
  • Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods
Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods
Tanner, B.K.
Anglès
EAN
9781475711288
Editorial
Any d'edició
2012
Idioma
Anglès
nº colección
63
Col·lecció
NATO Science Series B:
Alt
254
Ample
178
Otros lectores lo han calificado con
Deixa’ns la teva opinió
0 opinions
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres