Charged Semiconductor Defects
Kratzer, Meredith C.
Anglès
EAN
9781849968201
Editorial
Any d'edició
2010
Idioma
Anglès
Col·lecció
Engineering Materials and Processes
Alt
235
Ample
155
Otros lectores lo han calificado con
Deixa’ns la teva opinió
0 opinions
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres