• Libros
  • CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Sachdev, Manoj
Anglès
EAN
9789048178551
Editorial
Any d'edició
2010
Idioma
Anglès
Col·lecció
Frontiers in Electronic Testing
Alt
235
Ample
155
Otros lectores lo han calificado con
Deixa’ns la teva opinió
0 opinions
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres