• Libros
  • Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Pineda de Gyvez, José
Anglès
EAN
9781441942852
Editorial
Any d'edició
2010
Idioma
Anglès
Col·lecció
Frontiers in Electronic Testing
Alt
235
Ample
155
Otros lectores lo han calificado con
Deixa’ns la teva opinió
0 opinions
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres