• Libros
  • Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Kwang-Ting (Tim) Cheng
Anglès
EAN
9780792382959
Editorial
SPRINGER
Any d'edició
1998
Idioma
Anglès
Col·lecció
Frontiers in Electronic Testing
Alt
235
Ample
155
Sin Stock
Envío gratis
Entrega: a partir de 10 días laborales
155,99 €
-5%
148,19 €
Otros lectores lo han calificado con
Deixa’ns la teva opinió
0 opinions
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres