• Libros
  • Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
HNATEK, EUGENE R.
Anglès
EAN
9780442006433
Editorial
Any d'edició
1993
Idioma
Anglès
Col·lecció
SIN COLECCION
Alt
234
Ample
156
Otros lectores lo han calificado con
Deixa’ns la teva opinió
0 opinions
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres