• Libros
  • Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
VV.AA.
Anglès
EAN
9783030156114
Editorial
Any d'edició
2019
Idioma
Anglès
Col·lecció
NanoScience and Technology
Alt
235
Ample
155
Otros lectores lo han calificado con
Deixa’ns la teva opinió
0 opinions
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres