• Libros
  • Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits
Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits
Sung-Mo (Steve) Kang
Anglès
EAN
9781461364290
Editorial
Any d'edició
2012
Idioma
Anglès
Col·lecció
The Springer International Series in Engineering and Computer Science
Alt
235
Ample
155
Otros lectores lo han calificado con
Deixa’ns la teva opinió
0 opinions
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres