• Libros
  • Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
PINEDA DE GYVEZ, JOSE
Anglès
EAN
9780792393061
Editorial
SPRINGER
Any d'edició
1992
Idioma
Anglès
Col·lecció
The Springer International Series in Engineering and Computer Science
Alt
235
Ample
155
Sin Stock
Envío gratis
Entrega: a partir de 10 días laborales
103,99 €
-5%
98,79 €
Otros lectores lo han calificado con
Deixa’ns la teva opinió
0 opinions
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres