Multi-Chip Module Test Strategies
Zorian, Yervant
Anglès
EAN
9781461377986
Editorial
Any d'edició
2012
Idioma
Anglès
nº colección
7
Col·lecció
Frontiers in Electronic Testing
Alt
260
Ample
195
Otros lectores lo han calificado con
Deixa’ns la teva opinió
0 opinions
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres