• Libros
  • Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
Kaczer, Ben
Anglès
EAN
9789402402056
Editorial
SPRINGER
Any d'edició
2016
Idioma
Anglès
Col·lecció
Springer Series in Advanced Microelectronics
Alt
235
Ample
155
Sin Stock
Envío gratis
Entrega: a partir de 10 días laborales
103,99 €
-5%
98,79 €
Otros lectores lo han calificado con
Deixa’ns la teva opinió
0 opinions
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres