X-RAY MICROSCOPY II
SAYRE, DAVID
Anglès
EAN
9783662144909
Editorial
SPRINGER
Any d'edició
2013
Idioma
Anglès
Col·lecció
Springer Series in Optical Sciences
Alt
229
Ample
152
Sin Stock
Envío gratis
Entrega: a partir de 10 días laborales
51,99 €
-5%
49,39 €
Otros lectores lo han calificado con
Deixa’ns la teva opinió
0 opinions
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres