X-Ray Multiple-Wave Diffraction
CHANG, SHIH-LIN
Anglès
EAN
9783540211969
Editorial
SPRINGER
Any d'edició
2004
Idioma
Anglès
Col·lecció
Springer Series in Solid-State Sciences
Alt
234
Ample
156
Sin Stock
Envío gratis
Entrega: a partir de 10 días laborales
155,99 €
-5%
148,19 €
Otros lectores lo han calificado con
Deixa’ns la teva opinió
0 opinions
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres