• Libros
  • CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Sachdev, Manoj
English
EAN
9789048178551
Editorial
Year of edition
2010
Idiom
English
Collection
Frontiers in Electronic Testing
High
235
Width
155
Otros lectores lo han calificado con
Share your feedback
0 opiniones
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres