• Libros
  • Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Kwang-Ting (Tim) Cheng
English
EAN
9780792382959
Editorial
SPRINGER
Year of edition
1998
Idiom
English
Collection
Frontiers in Electronic Testing
High
235
Width
155
Sin Stock
Envío gratis
Entrega: a partir de 10 días laborales
155,99 €
-5%
148,19 €
Otros lectores lo han calificado con
Share your feedback
0 opiniones
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres