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Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance
VAN SCHOOTEN, KIPP
Anglais
EAN
9783319033280
Éditorial
SPRINGER
Année d'édition
2015
langage
Anglais
Collection
Springer Theses
Haute
235
Largeur
155
Sin Stock
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