SCANNING ELECTRON MICROSCOPY
HAWKES, PETER
Anglais
EAN
9783642083723
Éditorial
Année d'édition
2010
langage
Anglais
Collection
Springer Series in Optical Sciences
Haute
235
Largeur
155
Otros lectores lo han calificado con
Laisse-nous ton avis
0 opiniones
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres