X-Ray Multiple-Wave Diffraction
CHANG, SHIH-LIN
Anglais
EAN
9783642059476
Éditorial
Année d'édition
2010
langage
Anglais
Collection
Springer Series in Solid-State Sciences
Haute
235
Largeur
155
Otros lectores lo han calificado con
Laisse-nous ton avis
0 opiniones
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres