• Libros
  • Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Pineda de Gyvez, José
Inglês
EAN
9781441942852
Editorial
Ano de edição
2010
Idioma
Inglês
Coleção
Frontiers in Electronic Testing
Alto
235
Largura
155
Otros lectores lo han calificado con
Deixa-nos a tua opinião
0 opiniones
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres