• Libros
  • Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Kwang-Ting (Tim) Cheng
Inglês
EAN
9781461375616
Editorial
SPRINGER
Ano de edição
2012
Idioma
Inglês
Coleção
Frontiers in Electronic Testing
Alto
235
Largura
155
Sin Stock
Envío gratis
Entrega: a partir de 10 días laborales
155,99 €
-5%
148,19 €
Otros lectores lo han calificado con
Deixa-nos a tua opinião
0 opiniones
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres