• Libros
  • Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Pineda De Gyvez, José
Inglês
EAN
9781461363835
Editorial
SPRINGER
Ano de edição
2014
Idioma
Inglês
nº colección
208
Coleção
The Springer International Series in Engineering and Computer Science
Alto
235
Largura
155
Sin Stock
Envío gratis
Entrega: a partir de 10 días laborales
103,99 €
-5%
98,79 €
Otros lectores lo han calificado con
Deixa-nos a tua opinião
0 opiniones
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres