Multi-Chip Module Test Strategies
Zorian, Yervant
Inglês
EAN
9781461377986
Editorial
SPRINGER
Ano de edição
2012
Idioma
Inglês
nº colección
7
Coleção
Frontiers in Electronic Testing
Alto
260
Largura
195
Sin Stock
Envío gratis
Entrega: a partir de 10 días laborales
103,99 €
-5%
98,79 €
Otros lectores lo han calificado con
Deixa-nos a tua opinião
0 opiniones
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres