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Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance
VAN SCHOOTEN, KIPP
Inglés
EAN
9783319005898
Editorial
SPRINGER
Ano de edición
2013
Idioma
Inglés
Colección
Springer Theses
Alto
235
Ancho
155
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