• Libros
  • Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Styblinski, M.A.
Inglés
EAN
9780792395515
Editorial
Ano de edición
1995
Idioma
Inglés
Colección
SIN COLECCION
Alto
235
Ancho
155
Otros lectores lo han calificado con
Déixanos a túa opinión
0 opinions
Tu puntuación
Déjanos tu opinión
/ caracteres